【求助】四点探针法怎么测碳化硅的电阻

我也想了解呢:tiger05:tjumark(站内联系TA)四探针测定的是表面电阻，一般用于薄膜方块电阻的测定；对于后尺寸的块体试样和lz的高气孔率、高电阻试样，建议采用体积电阻测定仪器，可以用高阻仪或LCR databridge等。
四探针测定的是表面电阻，一般用于薄膜方块电阻的测定；对于后尺寸的块体试样和lz的高气孔率、高电阻试样，建议采用体积电阻测定仪器，可以用高阻仪或LCR databridge等。
另外，测试电极的制备也是很重要的。 可不可以推荐几个具体的设备，我用四探针法又测了一下自己烧出来的SiC
我的是碳化硅的试条，宽高都是12mm,长度现在有二十几mm，想做一下电阻率的测试，我看实验室的四点探针仪器是WC的针头，想测一下电阻率，以前也是这种碳化硅试条，做测试的时候也磨光过一个表面，但是试样本身气孔 ... 你这个四探针电阻率测试仪是测表面电阻的吧。这种测试仪测的探针周围的表面电阻，并且四个探针之间距离为1mm左右，感觉误差较大。
你这个四探针电阻率测试仪是测表面电阻的吧。这种测试仪测的探针周围的表面电阻，并且四个探针之间距离为1mm左右，感觉误差较大。